?? yl23411永利衔接器 · 王工

好多工程师第一次做Fakra多端口测试时城市遇到一个景象：

统一套衔接器、统一台VNA、统一个测试夹具。

换了一种校准方式后：

? 隔离度忽然相差2～5 dB；
? 高频端曲线起头漂移；
? 两次测试了局齐全对不上。

不少人第一反映是：

是不是衔接器机能不不变？

其实好多时辰，问题并不在衔接器，而是在校准方式。

? 一、多端口测试，真正测的是整个丈量平面

测试Fakra多端口时，常见指标蕴含：

• 插入损耗（S21）
• 回波损耗（S11）
• 端口隔离度（S31、S41等）
• 串扰（NEXT/FEXT）

这些参数都高度依赖：

VNA的参考丈量平面是否成立正确。

若是校准不到位：

后续所有S参数城市受到影响。

?? 二、SOLT校准：使用最广，但并非全能

SOLT代表：

• Short（短路）
• Open（开路）
• Load（匹配负载）
• Through（直通）

利益：

? 操作单一；
? 商用校准件成熟；
? 同轴接口测试效能高。

对于尺度SMA、N型等同轴接口：

SOLT通Ｄ芄换竦煤芎玫牟馐粤司。

但问题在于：

它极度依赖校准件模型的正确性。

若是：

• 转接头较多；
• 测试夹具复杂；
• 存在非梦想过渡；

误差就会逐步累积。

? 三、TRL校准，更适合复杂夹具

TRL代表：

• Thru
• Reflect
• Line

它最大的特点是：

不依赖高精度Load模型。

而是利用：

分歧长度传输线成立参考平面。

因而对于：

• PCB夹具；
• 高速衔接器；
• 非尺度接口；

TRL通常拥有更好的高频正确度。

尤其：

10GHz以上，

TRL优势会越来越显著。

? 四、为什么隔离度最容易受影响？

好多人关注：

S11。

其实真正最敏感的是：

隔离度（Isolation）

原因很单一。

隔离度自身就是：

很幼的信号。

例如：

-30dB

意味着：

只有千分之一左右的能量。

此时：

任何一点校准残差，

城市直接进入最终了局。

所以：

一个正本只有：

0.2dB的校准误差，

都可能造成：

几dB的隔离度误差。

? 五、SOLT和TRL最大的区别，不只是精度

更沉要的是：

误差模型分歧。

SOLT重要依赖：

尺度件误差赔偿。

TRL更强调：

传输蹊径真实复原。

因而：

对于Fakra这种：

存在衔接器+夹具+PCB过渡的系统。

TRL往往可能：

更正确复原真实S参数。

出格是在：

• 高频；
• 多端口；
• 隔离测试；

优势越发显著。

? 六、什么时辰选SOLT？什么时辰选TRL？

通常能够这样理解：

适合SOLT：

? 尺度同轴接口；
? 测试链路单一；
? 商用校准件齐全；
? 通例出产测试。

更适合TRL：

? PCB测试夹具；
? 高速衔接器验证；
? 多端口网络；
? 高频研发测试。

不少研发尝试室：

开发阶段使用TRL，

量产检测再切换SOLT。

这样既保障精度，

又两全效能。

? 七、真正影响测试了局的，还有这些细节

除了校准方式：

还有几个成分同样容易影响隔离度：

? 校准参考面是否一致；
? Fakra转接器沉复插拔一致性；
? 测试线缆弯曲状态；
? VNA端口不变性；
? 去嵌入（De-embedding）是否正确。

好多时辰：

各人看到的是：

“校准方式分歧。”

现实上：

真正叠加的是：

整个测试系统误差。

? 老射频测试工程师的一句话

好多新人感触：

“校准只是测试前的筹备工作。”

现实上：

对于高频衔接器来说，

校准自身就是测试的一部门。

参考平面放在哪里，

决定了你最终测到的是：

衔接器真实机能，

还是夹具和转接器共同”演出来”的了局。

? 写在最后

Fakra衔接器多端口VNA测试中，SOLT和TRL并没有绝对的曲直，而是合用于分歧的测试对象和指标。

yl23411永利衔接器在高速射频测试项目中总结出几点经验：

? SOLT适合尺度同轴接口和通例量产测试；
? TRL更适合复杂夹具、高频研发和多端口丈量，可有效降低夹具带来的误差；
? 隔离度属于低电平参数，对校准残存误差极其敏感，校准战术往往比仪器精度更关键。

因而，对于Fakra高频测试而言，真正值得器沉的不是：

“SOLT还是TRL更先进？”

而是：

哪一种校准方式，可能把你的参考平面真正成立到衔接器自身。